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品质技术 >> 消除探针影响和其它测量问题

消除探针影响和其它测量问题

文章来源：英特尔公司发布时间:2008/6/26 9:15:30 发布时间:2008/6/26 9:15:30 【关闭】

英特尔公司技术战略部门，材料研究组经理Michael Garner，在2007年国际纳电子表征与测量前沿会议（2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics）上列举了在纳米科技时代测量技术需要克服的几个障碍。

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