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AkroMetrix在SEMICON West上推出高产量J5000平面度测量系统 |
| 文章来源：最新采集
发布时间:2006/6/26 8:28:35 【关闭】 |
AkroMetrix有限责任公司将在于7月11日至14日在加州旧金山举行的美国国际半导体设备与材料展览会（SEMICON West）上（8301号展台）展出其最新产品——J5000机型LineMoiréTM自动化平面度测量系统。
J5000利用高速全场阴影叠纹技术实现了对JEDEC（或类似的）托盘中芯片载体/基板、封装和集成电路的平面度测量。该系统不仅能同时测量托盘中包含的所有装置（每个托盘的数据采集时间为1秒钟），而且还整合了托盘堆叠/拆堆叠和零部件分拣性能。因此，该系统可测量托盘堆叠层、以已知的"良好"零部件替代"不良"零部件（即不符合用户指定翘曲规格的零部件），然后再分别堆叠"良好"托盘和"不良"托盘。这对零部件的输入/输出检测特别重要。由于J5000是整个LineMoiréTM生产线的焦点，因此其在执行任何增值处理之前实现了全面的平面度特性化。
AkroMetrix北美销售经理Joe Thomas说："J5000是对LineMoire自动化平面度测量产品线的最新发展。依照某些重点客户的要求，我们开发了此项产品，并计划实现每小时5000个零部件的生产率和更高的检测率。由于封装与基板的平面度变得越来越重要，我们坚信，高速J5000能极好地满足客户对100%翘曲测量的要求。我们很高兴能在SEMICON West上展出全功能型J5000。 |
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